Nanonics近場掃描光學顯微鏡：NANONICS是業界成立久並且對此類係列產品經驗豐富的公司之一，其產品榮獲過許多大獎。在強大的NSOM/AFM的整合操作係統推動下，今天NANONICS繼續以強大的優勢和全麵的係統著市場。NANONICS憑借實力和品質，其產品涉足的領域從科研到工業，從生物學到半導體，從化學製品到無線電通訊，應用範圍極其廣泛。

Nanonics近場掃描光學顯微鏡說明：

我們(men) 的創新
NANONICS IMAGING LTD.一直是掃描探針顯微鏡（SPM）領域中將近場光學顯微鏡（NSOM）技術和棋牌平台有挂吗（AFM）技術*結合的*。公司成立於(yu) 1997年，在過去的十年裏我們(men) 將新的概念應用到SPM係統中從(cong) 而開拓了SPM市場領域一個(ge) 新的視角。 Nanonics使用懸臂近場光學探針為(wei) 業(ye) 內(nei) 提供了革命性的近場光學成像；同時也引入了雙探針技術、樣品掃描AFM係統；*個(ge) 提供近場光學（NSOM）/棋牌平台有挂吗（AFM）低溫係統，Raman-AFM係統，多探針AFM係統和掃描電鏡（SEM）/AFM係統。

NANONICS是業(ye) 界成立並且對此類係列產(chan) 品經驗豐(feng) 富的公司之一，其產(chan) 品榮獲過許多大獎。在強大的NSOM/AFM的整合操作係統推動下，今天NANONICS繼續以強大的優(you) 勢和全麵的係統著市場。NANONICS憑借實力和品質，其產(chan) 品涉足的領域從(cong) 科研到工業(ye) ，從(cong) 生物學到半導體(ti) ，從(cong) 化學製品到無線電通訊，應用範圍極其廣泛。

我們(men) 的理念 – 提供SPM，近場光學和顯微鏡整合方案
Nanonics 致力於(yu) 製造先的SPM儀(yi) 器，我們(men) 將SPM技術和其它顯微鏡表征技術*的整合在一起。在納米科技表征技術領域中，為(wei) 用戶提供一個(ge) 開放並潛力的SPM表征技術平台。

我們(men) 的技術
作為(wei) 一家商業(ye) 公司，我們(men) 有著自己*的技術優(you) 勢。我們(men) 能提供大量種類齊全的納米探針。包括業(ye) 內(nei) 的懸臂近場光學（NSOM）探針到熱學，電學探針。這些外露光學探針的運用結合具有保護的3D平麵掃描技術為(wei) 我們(men) 的係統提供了一個(ge) 廣闊開放的光學平台——這是我們(men) 能夠將AFM技術和其它顯微鏡表征技術*結合的重要原因。

我們(men) 的團隊
我們(men) 擁有一支專(zhuan) 家團隊為(wei) 我們(men) 提供創新技術和高性能的產(chan) 品。在過去的十年裏我們(men) 擁有40多名員工並且組建了zui大的SPM專(zhuan) 家和科學家團隊。 團隊直接由近場光學奠基人之一的Aaron Lewis 教授帶領十五名科學家為(wei) 客戶提供以SPM為(wei) 平台的產(chan) 品和。

我的技術服務
我們(men) 致力於(yu) 提供客戶高性能的業(ye) 內(nei) 級產(chan) 品和高附加值的。從(cong) 係統安裝開始，我們(men) 就區別於(yu) 其它競爭(zheng) 對手，為(wei) 你提供高素質的技術專(zhuan) 家安裝設備，提供SPM技術領域的專(zhuan) 家指導。通過一對一的與(yu) 客戶溝通幫助客戶使用儀(yi) 器。Nanonics在業(ye) 內(nei) 已經有一大批客戶並且客戶通過使用我們(men) 的儀(yi) 器發表了不少好的文章。這些客戶和客戶的成績也同樣見證了我們(men) 為(wei) 客戶提供了的完整的SPM和其他表征整合方案和。


Nanonics近場掃描光學顯微鏡的基本構造：

進行NSOM實驗，必須將點光源靠到樣品表麵納米距離，然後點光源掃描樣品表麵，再收集探測經過樣品表麵的光學信號。我們(men) 使用經金屬塗層處理的帶孔洞椎形光纖作為(wei) NSOM探針。光經耦合進入探針，從(cong) 亞(ya) 光波長孔徑的探針*發出，NSOM的分辨率就是由孔徑的大小決(jue) 定（*可以達到50納米）。點光源和樣品表麵的距離通常通過正常的力反饋機製（與(yu) AFM相同）控製，因此可以進行接觸、敲擊和非接觸模式的NSOM實驗。針對不同的材料和實驗，通常有四種NSOM操作模式：

* 透射模式成像——樣品經過探針照明，光通過樣品並與(yu) 樣品相互作用後被收集探測；
* 反射模式成像——樣品經過探針照明，光從(cong) 樣品表麵反射並被收集探測；
* 收集模式成像——樣品經遠場光源照明（從(cong) 上或下麵均可），探針將光信號從(cong) 樣品表麵收集；
* 照明收集模式成像——用同一根探針同時進行照明和收集探測反射光；

在近場光學領域，部分掃描模式隻有通過Nanonics提供的*玻璃光纖探針才能完成，因為(wei) 我們(men) *的光纖探針具有很好的波導性能。

收集的光可通過多種探測器探測，如APD（Avalanche Photo Diode）、PMT（Photomultiplier Tube）、InGaAs探測器、CCD或通過光譜儀(yi) 探測，通過探測器得到的信號經過數據處理得到樣品材料的NSOM圖像。

多探針係統
Nanonics棋牌平台有挂吗zui多可以同時進行四探針測試，光纖探針各自獨立控製，可以同時分別、獨立進行如滴液、加壓，電學，熱學方麵的測試等不同的工作。

技術的*扁平3D 掃描台
具有技術的掃描台上下光路開闊，可以將上，下置光學共聚焦顯微鏡*整合到AFM掃描平台上，在無需更換任何探頭的情況下同步完成的一係列的探針掃描，光學測量，力學測量，熱學電學測量等測試手段，節約了用戶大量的時間和精力並保證了樣品測試的連貫性。通常很多廠家儀(yi) 器做不同測試的時候探頭都需要更換，不能同步聯用並且費時費力。Nanonics這項是目前市場上*的優(you) 勢技術，並且探針掃描台和樣品掃描台可以獨自運作，即可以探針不動，樣品移動；或者樣品不動，探針移動，其它廠家無法提供這種*的掃描方式。掃描的步進位移通過壓電陶瓷驅動精度*，Nanonics棋牌平台有挂吗分別提供一個(ge) 85um樣品掃描台和30um探針掃描台，XY方向的掃描範圍是110*110um。尤其是Z方向的大掃描範圍是所有AFM廠家無法提供的。另外一個(ge) 3D掃描台提供探針掃描和樣品掃描兩(liang) 種模式，在所有AFM 電鏡中是*的設計。

*的音叉反饋機製
常規的AFM反饋通過激光反射反饋，具有噪音大，調試困難，受幹涉情況；尤其在液體(ti) 中或者做光學測試的時候，例如近場光學，AFM-Raman測試中，容易被幹涉或者幹涉有效信號。音叉反饋采用常規力學反饋避免了以上所有弊病，安裝簡單，結構穩定。
技術的懸臂光纖彎針 。Nanonics 棋牌平台有挂吗的玻璃探針可提供暢通的光學通道，光線能以與(yu) 傳(chuan) 統直線式近場光學元件相同的效率和偏振性傳(chuan) 輸到探針*。玻璃探針可以做成中空型，用於(yu) 加載光纖或實現Nano-Pen功能。

多種探針通用平台
Nanonics 棋牌平台有挂吗係統不僅(jin) 可以使用玻璃光纖探針，也可以使用傳(chuan) 統的商業(ye) 化AFM/NSOM矽探針，提供了一個(ge) 通用多探針使用平台。客戶也可以要求使用常規矽懸臂探針。另外Nanonics還可以根據客戶不同的需要定製探針。

的Z 方向探測深度
MV4000在Z方向zui大可探測深度為(wei) 140um?，非常適合深溝狀樣品。*的懸臂設計不僅(jin) 能探測深溝底部的形貌，而且可以對側(ce) 麵進行檢測。常規的矽懸臂探針無法做深溝探測。

*的光學友好性
Nanonics棋牌平台有挂吗的玻璃光纖探針可提供暢通的光學通道，可同時和正置與(yu) 倒置顯微鏡配合使用，實現透射式、反射、照明模式、收集模式（Nanonics*的）等多個(ge) 功能。光纖探針具有良好的光學性能和光導性能，這是矽懸臂探針無法做到的。

拉曼連用平台
MV4000的玻璃光纖探針具有光學友好特性，可與(yu) 任何拉曼光譜儀(yi) 整合，例如常用的Reinshaw 和JY Raman係統。可實現在線AFM形貌掃描，拉曼Mapping，自動共聚焦，提高拉曼的精度。配合NSOM可以完成微區Raman，並且還可以做熒光和微區熒光掃描。由於(yu) *的掃描平台，AFM-Raman 聯用不僅(jin) 可以掃描透明樣品還可以掃描不透明的塊狀和薄膜樣品，這也是在AFM-Raman 聯用案例中*的設計。

TERS玻璃探針
Nanonics在玻璃光纖探針的*采用的獨立金球技術，與(yu) 其他塗層探針相比，不會(hui) 因在長時間使用後，受到激光影響而脫落，更為(wei) 穩定，效率更高。配合*的掃描台設計，可以在光源位置找到*激光偏振位置獲得的TERS信號源。這也是其它廠家不具備的特點。

原子力掃描表征：
-接觸模式（可選）
-探針或者樣品掃描都具有所有棋牌平台有挂吗的操作模式。
近場光學成像和激發表征
-透射，反射，收集，激發模式
界麵差別對比表征
-反射和透射模式
折射係數分析表征
-反射和透射模式
熱導和阻值擴散分析表征
-接觸AC模式
-無反饋激光通過外部媒介導入半導體(ti) ，使用音叉反饋
在線遠場共聚焦拉曼和熒光光譜成像
-反射和透射模式
-針尖增強拉曼散射和在超薄層麵上做選擇性拉曼散射，例如應變矽
納米刻蝕
-納米“筆"探針輸送多種化學物質和氣體(ti)
-近場光學刻蝕和常規方式的納米刻蝕技術比如電子氧化等，並且可-以同時使用另外一根探針做在線同步分析
納米壓痕
-使用兆級帕斯卡壓強，通過另外一個(ge) 附加探針的在線同步分析將力學探針精確定位和控製。

SPM 掃描頭參數：

樣品掃描器
-壓電掃描平台 （3D 掃描台™）
-高度7毫米
探針掃描器
-四個(ge) 獨立控製的壓電掃描平台（3D 掃描台™）模塊
-高度7毫米
掃描範圍
-每根單探針掃描範圍30 微米 （XYZ方向）
-僅(jin) 樣品掃描器掃描範圍100微米（XYZ方向）
-樣品掃描器和單探針掃描器掃描範圍130微米 （XYZ方向）
-樣品掃描器和雙探針掃描器掃描範圍160微米（XY方向）
掃描分辨率
- < 0.05 納米 （Z方向）
-< 0.15納米（XY方向）
-< 0.02納米（XY方向） 低電壓模式
粗定位
-樣品粗調定位： XY 馬達驅動範圍5mm-分辨率0.25微米
-針尖粗調定位：
-XY方向馬達驅動-驅動範圍5mm-分辨率0.25微米
-Z方向馬達驅動-驅動範圍10mm-分辨率0.065微米
反饋機製
-音叉反饋（標準）
-激光反射反饋（可選）
常規樣品尺寸
-標準尺寸可達到16毫米
-使用上置光學顯微鏡操可達到34毫米
-不使用樣品掃描方式可以達到55毫米
-有些客戶樣品尺寸達到200mm也能掃描
-非常規尺寸樣品：例如橫截麵高低起伏較大的樣品等一些特殊形狀樣品
探針
-*的玻璃探針，針尖可以提供不同的形貌和參雜金屬顆粒或者塗層
各種形式的常規矽懸臂探針也可以使用

成像分辨率：

遠場成像分辨率
-到達衍射限製
光學成像分辨率
-非共聚焦下光學分辨率500納米左右
共聚焦成像分辨率
-200納米
近場光學成像分辨率
-安裝時保證100納米分辨率；50納米分辨率也可以提供
形貌成像分辨率
-Z 方向噪音有效值0.05 納米（RMS）
-XY 橫向分辨率：根據樣品和針尖直徑情況
熱學成像分辨率
-至少100納米
阻值成像分辨率
-至少25納米

熱學&阻值成像：

溫度參數
-300度或者更高，要考慮樣品情況
熱學參數
-*的雙根納米鉑絲(si) 嵌在絕緣玻璃探針中
-熱敏感度0.01 ºC
-測量阻值改變速率為(wei) 0.38 Ω/ºC
阻值特點
-*的雙根納米鉑絲(si) 嵌在絕緣玻璃探針中並且可以做出不同的形狀結構和塗層
-超高電勢分辨率
-接觸電阻極微小
-電學穩定& 抗氧化

在線光學和電子/離子光學掃描同步完成

可以完成的表征類別
-遠場光學，共聚焦光學，近場，微區拉曼，掃描電子顯微鏡（SEM）或者聚焦離子束（FIB）
整合優(you) 勢
-樣品掃描台上下光路開闊，可以做光學或電子/離子光學特征同步掃描聯用

-將所有形式的光學顯微鏡整合在一起，包括上置光學顯微鏡和下置光學顯微鏡同時整合在探針掃描平台上

-整合了所有標準微區拉曼180度背反射幾何形貌配置。下置光學顯微鏡和Nanonics*的上下置光學顯微鏡可以做不同的透明和非透明樣品

-具有所有常規的遠場光學操作模式包括相位成像和界麵差別對比

-可以使用上置，下置和雙置光學顯微鏡做任何模式近場光學掃描，無需更換掃描頭保證了實驗結果穩定性和可重複性。
探測器類別
-PMT， APD 或者InGaAs 紅外探測器
激光光源
-可提供深紫外到近紅外激光
電視頻係統
-在線CCD 視頻成像